產品詳情
主要應用
- 可測量基片上金屬、陶瓷、聚合物薄膜的熱物性參數，如熱擴散系數、熱導率、吸熱系數和界面熱阻。
主要特點
- 精確的微米級薄膜導熱測量方法
- 可提供RF測量模式（后加熱-前檢測）和FF測量模式（前加熱-前檢測）
- PicoTR遵循國際校準標準
技術參數
- 溫度范圍：RT，RT … 500°C（選配）
- 測量模式：RF/FF
- 樣品尺寸：10×10 … 20×20mm
- 薄膜厚度：10nm … 900nm（取決于樣品種類和測量模式）
- 熱擴散系數：0.01 … 1000mm2/s
- 主激光：脈沖寬度0.5ps；光束直徑45μm；激光功率20mW
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通過認證?[誠信檔案]
